X射线荧光分析仪参数
一、核心部件参数
1.探测器
1.1.美国探测器Amptek FASTSDD/Peltier
1.2.分辨率≤125eV
1.3.输出计数率高至1000KCPS
1.4.峰化时间≤12.8μs
1.5.峰背比>18000
2.X射线源
2.1.电压0-50KV、步进1KV连续可调
2.2.电流0-1000uA、步进1uV连续可调
2.3.最大功率50W
3.高压发生器
3.1.电压0 -50 KV
3.2.电流0-1000uA
3.3.最大功率50 W
3.4.8小时稳定性≤0.05%
二、仪器参数
1.分析元素范围:F(9)-U(92)
2.含量分析范围:1ppm-99.999%
3.样品种类:固体、液体、粉末和薄膜
4.分析精度:标准偏差≤0.1%(国标标样)
5.X射线源靶材:Ag靶
6.激发类型:直接激发和二次靶激发(按需定制)
7.滤光系统:6种(Cu、Al、Mo、Ti、Fe等组合)
8.X射线准直器:6mm、4mm、3mm、2mm、1mm、0.5mm可选。
9.主板控制系统:自动开关门、自动开关抽真空、自动样品分析。
10.真空系统:配置真空系统,优化样品分析环境,提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析精度。
11.仪器外观:柜式结构;内设防震降噪装置、射线外溢屏蔽装置和四道散热装置;坚固耐用;确保仪器安全可靠稳定运行。
三、分析软件
1.支持Windows操作系统,中文版软件(可安装英文软件)
2.软件管理权限密码功能,管理员登陆和分析员登陆权限。
3.该软件功能:定性分析、半定量分析、定量分析;
4.该软件算法:经验系数法、基本参数FP法、背景FP法;全面积、净面积、高斯拟合、实谱拟合、一次线性、二次曲线、插值法、强度校正、含量校正、元素内标、背景内标等多种分析方法。
四、仪器配置
1.X荧光分析仪主机1套
2.真空系统1套
3.数据处理系统1套
4.稳压装置1套
5.全自动压样机1套
6.台式电脑1套(I5处理器、8G内存、1T硬盘)
7.打印机1套(品牌激光)
五、质量保证和售后说明
1.设备质量保证体系文件:
1.1.产品出厂合格证,吊牌编号
1.2.产品使用说明书
1.3.设备安全辐射认证
2.质保期:整机质保1年,在质保期内,厂家免费提供各项维护保养升级服务;过质保期后,厂家为设备提供终身维修服务。
3.技术服务
厂家负责运货上门;负责设备安装、调试,人员培训;不收取费用。